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產品介紹

一♀☿☼☀☁☂☄、設備概述：

本儀器主要適用于在不同溫度下測試材料電阻的試驗測量系統❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，主要測試材料的電阻溫度變化關系ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ。

儀器測試流程自動化實現和完成㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦，并可以保存和導出試驗數據⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯。

二⑰⑱⑲⑳⓪⓿❶❷❸❹❺、技術參數：

1❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰、*小電流分辨率：-10 ¹⁶ A

2ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ、溫度測量范圍：室溫RT1+10°C-250°C

3✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅、升溫速率：1.0℃--10℃/min

4ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ、電壓量程（DC）：10V/50V/100V/250V/500V/1000V

5☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、加熱方式：電加熱

6ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ、數據采集：軟件控制⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤，自動采集✺ϟ☇♤♧♡♢♠♣♥，實時動態顯示曲線

7㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉、數據保存：可導出EXEXL數據報表⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯，生成電子報告

8☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、測量電極直徑：50.2MM（測量電極50MM+間隙g=2MM）

9ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ、加熱功率：1500W

三⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓、軟件介紹：

起始溫度：試驗開始溫度☈⊙☉℃℉❅，需要設定⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯，到達此溫度后⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾，開始做試驗

截止溫度：試驗結束溫度㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，需要設定㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂，到此溫度后♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃，自動結束

變溫速率：設定升溫速率

保持時間：到達設定的溫度后ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ，需要保持的時間

驅動電壓：選擇試驗電壓✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴，建議根據試樣的耐壓強度❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，選擇適當的試驗電壓

電極直徑：50.2MM⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓，標準電極尺寸☾☽❄☃，如更換電極ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ，請輸入實際電極尺寸值

試樣厚度：請輸入試樣的實際厚度☈⊙☉℃℉❅，參與體積電阻率計算

四☾☽❄☃、試驗操作步驟：

1ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ、 把測試電流主機數據線和加熱裝置數據線❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，分別與電腦連接好

2웃유ღ♋♂、 把電極線與電流主機連接好ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ，（紅色線-電壓ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ，黑色線-接地⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯，BNC接頭-電流）

3ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ、 把測試試樣平整放置在平板電極上⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤，并把上電極居中放置好

4⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾、 打開烘箱開關❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，和測試電流主機電源開關（建議供電后預熱幾分鐘）

5✺ϟ☇♤♧♡♢♠♣♥、 打開試驗軟件ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ，輸入試驗參數后⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤，點開始試驗

6❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰、 試驗結束后❋❀⚘☑✓✔√☐☒✗✘ㄨ✕✖✖⋆✢✣，會有提示ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ，可以對數據進行保存和導出⑰⑱⑲⑳⓪⓿❶❷❸❹❺。

7☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、 連續做下次試驗時웃유ღ♋♂，只需要更換試樣即可ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ。

五❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰、設備組成：

1ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ、高電阻微電流測量儀

2❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰、電熱恒溫加熱試驗箱

3☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、測試電極

4✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅、測試系統

六㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂、注意事項

1ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ、開機順序：先開主機ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ，再打開軟件

2✺ϟ☇♤♧♡♢♠♣♥、試驗環境：*是通風環境

3⑰⑱⑲⑳⓪⓿❶❷❸❹❺、加熱功率：大于1.5KW

4㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉、測試過程：測試過程中✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴，不要觸摸數據線

5㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂、屏蔽干擾：遠離有磁場干擾的測試設備

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精度不低于1卩m⑰⑱⑲⑳⓪⓿❶❷❸❹❺；薄膜厚度大于或等于100/zm時ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ，精度不低于2卩mⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ。沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜（當膜卷寬度小于400mm時❋❀⚘☑✓✔√☐☒✗✘ㄨ✕✖✖⋆✢✣，可適當多取幾條）❣❦❧♡۵，試樣不應有皺折或其他缺陷㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉。按ISO1993的要求☾☽❄☃，測量試樣的厚度✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴。在試樣上等距離共測量27點웃유ღ♋♂，兩測量點間距不少于50mm❣❦❧♡۵。對未切邊的膜卷,測量點應離薄膜邊緣50mm,對已切邊的卷⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓，測量點應離薄膜邊緣2mm㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂。取27個測量值的中值作為試驗結果ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ，并報告大值和小值♀☿☼☀☁☂☄。薄膜疊層試樣的數量為四個⒔⒕⒖⒗⒘⒙⒚⒛ⅠⅡⅢⅣⅤⅥⅦⅧⅨⅩⅪⅫⅰⅱ，每個疊層試樣由12層薄膜組成♀☿☼☀☁☂☄。其制備方法如下:從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時切取㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦，并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板（推薦尺寸為：250mmX200mm,其中200mm為板的長度方向尺寸）㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦。

薄膜的變形可能有兩種形式⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾，a）偏移/弧形:薄膜平整地展開時♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃，b）凹陷：薄膜的局部面積因受拉作,從而會出現低于總平面的凹陷部分（見圖2和圖3）♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃。規定兩種方法測量變形」原理:按ISO4591J991中的第2部分✺ϟ☇♤♧♡♢♠♣♥，根據膜卷的長度⒔⒕⒖⒗⒘⒙⒚⒛ⅠⅡⅢⅣⅤⅥⅦⅧⅨⅩⅪⅫⅰⅱ、平均寬度和凈重以及薄膜的密度計算平均厚度㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦。待定⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓。按ISO1992中第2部分規定測定✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴，沿樣品縱向取5m,使薄膜處于放松狀態1h后⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾，沿縱向等距離測定寬度五次㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂。記錄每一寬度測定值✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴，取中值作為該卷的寬度⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾。a）方法A適用于窄的薄膜（小于150mm）⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤，其變形主要表現為偏移/孤形ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ；b）方法B適用于較寬的薄膜（大于或等于150mm）♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃，其變形主要表現為凹陷✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴。對于很厚的薄膜♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃，由于其變形主要表現為凹陷♦☜☞☝✍☚☛☟✌✽✾✿❁❃。

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